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标题: 晶体硅光伏组件认证测试耐候性项目失效分析 [打印本页]

作者: isunlicai 时间: 2013-5-31 12:47
标题: 晶体硅光伏组件认证测试耐候性项目失效分析
晶体硅光伏组件的失效通常分为三类：早期失效、随机失效、耗损失效。光伏组件认证测试所评定的失效是早期失效，通常情况下，该失效概率在组件制成后最大，以后随着时间的推移逐步减小。光伏组件早期失效中耐候性测试失败的比例较高，其中：湿-热试验，约占到总失效次数的42% ；热循环试验（200次），约占到总失效次数的18%。此两项测试项目的失效次数合计约占总失效次数的60%。因此，提高这两项测试的合格率，将大大提高光伏组件认证测试的一次通过合格率。

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作者: 光伏圈搬砖工 时间: 2013-6-2 16:53
好贴，顶一下！！！

作者: isunlicai 时间: 2013-6-2 18:08

光伏圈搬砖工发表于 2013-6-2 16:53
好贴，顶一下！！！

作者: 折翼的天使 时间: 2013-8-25 21:47
这个不错，学习了。

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