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标题: UL常温PID测试条件是什么我知道TUV是60度，85%，96hours [打印本页]

作者: amy 时间: 2013-9-24 10:30
标题: UL常温PID测试条件是什么我知道TUV是60度，85%，96hours
UL常温PID测试条件是什么
我知道TUV是60度，85%，96hours

作者: 光伏佳人 时间: 2013-9-24 23:53
常温是室温，没有湿度控制，168小时

作者: 有机硅测试技术 时间: 2013-10-2 19:44
不只是UL常温，一般所说的常温都是这样的。不知道新出来的IEC标准谁有，怎么规定的

作者: solartest 时间: 2014-7-22 18:37
目前的实验结构和太阳能光伏组件制造商较多采用以下两种测试方法，对太阳能光伏组件的PID效应进行评估：

1)在25℃的温度下，在组件玻璃表面覆盖铝箔，1000V直流电施加在组件的输出端和铝框上168小时。

2)组件先进性85%的湿度85℃高温测试，然后在60℃或85℃的环境下100小时，将1000V直流电施加在组件输出端和铝框上100小时。

较多的PID衰减被发现发生在老化以后，根据目前的报道和实验结果发现PID现象与玻璃、电池和胶膜的关系较大。

目前使用于太阳能光伏组件的玻璃是含钠离子的玻璃。有文献报道，在高温高湿情况下硅酸盐玻璃表面会有碱析出，主要成分是Na2O。把玻璃更换成石英玻璃后，在同样的测试条件下，没有PID现象被发现。

胶膜也被发现对PID现象有非常密切的关系。使用EVA或PVB封装的组件都被发现在湿热老化非常容易产生PID现象。其测试方法是在85%湿度85℃下在组件表面覆盖铜箔并连接200V的正极，电池连接负极。48小时后即发现电池效率大幅度衰减。当硅胶在更长时间的PID测试后也呈现出大幅度功率衰减的现象。而当将EVA更换成热塑性弹性体后，电池功率衰减的现象大幅度减小。

电池表面的反射层被发现和PID现象有非常密切的关系。有报道表明薄的减反层更有利于抗PID现象。含Si多的减反层比含N多的减反层更可以抵抗PID现象。当减反层的折射率大于2.2后，PID现象不再被观察到。有太阳能光伏组件制造商在做针对电池和PID的关系的测试中也发现了类似的现象，结论是当折射率大于2.13后，几乎所有的EVA都能通过PID测试，当折射率小于2.08后，通过PID测试的EVA寥寥无几。

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