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2023年度N型电池技术发展与设备创新论坛     第四届全球钙钛矿与叠层电池(苏州)产业化论坛暨钙钛矿光伏学术+产业+资本融合创新年会
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掩耳盗铃的EVA抗PID - 你所知道的PID “free”真的Fre...

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硅胶板 发表于 2013-11-10 23:25:32 |显示全部楼层
       EVA抗PID成了组件抗PID的封装材料解决方案的热门话题。你真的相信EVA能抗PID吗?
       不少通过组件室内模拟PID测试的结果表明,在-1000V、双八五、96小时的试验后,确实没有发现PID现象,或者说,PID现象不严重,组件功率降低小于5%。
       目前从封装材料来解决PID的主要根据是减少EVA材料的水解和增加EVA本身的绝缘电阻,因而多采用较低VA含量,以及适当改变配方,将体积电阻从E14提高到E15数量级。其意义也就是降低组件的漏电流。据EVA厂商介绍某些抗PID性能的EVA封装的组件做PID测试时漏电流今有几微安(普通EVA封装的组件漏电流有几十到几百微安)。

       但这又能说明什么呢?

       首先,看一下EVA抗水解试验。很多双八五试验表明,组件满足1倍甚至2倍的IEC测试已经不再稀奇。但EVA到底什么时候水解会很严重?笔者有幸参加了日前举行的第九届CSPV研讨会。会议上,有多个报告都说明,在3000-35000小时双八五试验后,EVA开始出现严重水解,组件功率开始明显下降。这就引出了一个尖锐的问题:到底抗PID试验要做多长时间?如果EVA开始出现严重水解,那么其抗PID的效果还能维持多久呢?这还没有算上EVA的紫外老化,在紫外线的作用下,EVA的分解、水解会加速,这时候PID还抗吗?

       再者,对于抗PID的EVA封装的组件,众多试验结果表明,组件厂家大多只是宣称其组件功率损失不超过5%。难道不超过5% 就说明PID Free了吗?第九届CSPV大会上有个关于PID的报告给出了这样一个有趣的试验结果,在经过96小时的双八五试验后,组件并没有什么功率损失,EL照片也没有发现异常,但如果把PID试验再严苛一点,在组件的表面覆盖上铝箔,降低玻璃表面的电阻,PID效应立现。
       再说,前面提到的组件厂试验,和当前发的PID试验证书,只是说功率损失小于5%,并没有说这个组件就是抗PID的。认证机构心里非常明白,但为了利益二字,只能在证书报告上玩点文字游戏。
       没有人知道,产生PID的漏电流是否有个临界值,到底将EVA的电阻提高到多少才好,到底VA含量降到多少才能抗水解呢?
       从目前所查到的有关PID解决方案资料介绍,所谓的抗PID EVA在很大程度上只是个概念,只是针对目前尚不成熟的室内PID测试模拟所给出的临时解决方案。无可厚非的是,抗PID的EVA总比不抗PID的EVA要好,但这并不能说,抗PID的EVA成了组件PID Free的解决方案。只要VA含量在,EVA就永远有个软肋,水解必然在不同的程度上,在各种因素的相互作用下,或迟或早地发生。而EVA一旦水解,其游离的醋酸离子必然将玻璃中的钠离子游离出来,形成漏电流的雪崩效应,到时候还是不是抗PID,就只有天知道了。
       在全世界的EVA厂商都在致力于PID Free的EVA宣传下,组件厂千万不要被这些貌似可信的数据迷了双眼。如果就此相信你的组件已经抗PID了,你和掩耳盗铃没什么不同。找到真正抗PID的材料或其它解决方案,才是业界努力的根本。

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wedu110 发表于 2013-11-11 09:33:14 |显示全部楼层
写的不错,问题摊开讲还是会有的。
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xiaodu 发表于 2013-11-11 11:28:58 |显示全部楼层
坐等12月1号
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中国光伏测试网 发表于 2013-11-12 11:33:52 |显示全部楼层
杜总V5! 写的真好
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gzbld 发表于 2013-11-12 11:42:54 |显示全部楼层
还是花一点功夫写的,虽太肤浅,
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gzbld 发表于 2013-11-12 11:45:39 |显示全部楼层
你不知道物理和化学的过程和变化,不知国内封装厂的力史,现状,
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gzbld 发表于 2013-11-12 11:46:11 |显示全部楼层
你不知道物理和化学的过程和变化,不知国内封装厂的力史,现状,
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wx831555 发表于 2013-11-12 17:10:21 |显示全部楼层
抗PID的材料的更迭需要一个过程,不是一下就能解决的问题,也不是一两种材料解决了就行了,需要相关的材料整体搭配才能真正意义的抗PID
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wx831555 发表于 2013-11-12 17:13:21 |显示全部楼层
你所说的几种测试方法不够科学,不能保证25年的质保期,现在有哪家组件敢承诺质保期是25年的?之前谣传通过IEC标准整套测试就能保证25年,可实际上IEC从没提到通过测试就能保证25年,25年只是银行或投资人算收益的一个年限。
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wx831555 发表于 2013-11-12 17:18:29 |显示全部楼层
还有你提到了PID测试方法中覆盖铝箔的问题,常温下测试覆盖铝箔这个还说的过去,如果60/85或是85/85条件下还有覆盖铝箔,这个合适吗?组件应用在什么环境下需要这样的测试条件来模拟?有些测试不是测试条件越苛刻越好,需要考虑实际应用中的具体环境,否则测试本身就没意义了。
个人觉得覆盖铝箔的做法只能作为研究PID的机理的辅助性实验。
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