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当EVA抗PID遇上紫外光 - PID测试篇续 - PID说说(六) ...
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当EVA抗PID遇上紫外光 - PID测试篇续 - PID说说(六)
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楼主
13952471055
发表于 2014-10-4 13:30:56
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从封装材料的可靠性来讲,毫无疑问,EVA是经过历史的检验的,对于EVA进行改良,增加漏电流通道的电阻值,对于PID的产生有很好的抵制作用。另外,从漏电流通道的机理来讲,金属边框是漏电流通道的载体,如果可以把金属边框替换成绝缘的非金属边框,那么就不需要接地,也就切断了漏电流通道,对于PID效应的产生将会有非常正面的作用。如果可以把EVA的改良和非金属边框的应用进行组合,无疑是对PID效应最好的解决方案!
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