光伏测试网论坛-当EVA抗PID遇上紫外光-PID测试篇续-PID说说(六)-测试网特约评论|光伏|太阳能|PV|技术|质量|认证|标准 - 光伏测试网 /> " /> " />
用户名: 密 码:    找回密码 立即注册 | 找回密码
QQ登录
2023年度N型电池技术发展与设备创新论坛     第四届全球钙钛矿与叠层电池(苏州)产业化论坛暨钙钛矿光伏学术+产业+资本融合创新年会
查看: 13400|回复: 0
打印 上一主题 下一主题

当EVA抗PID遇上紫外光 - PID测试篇续 - PID说说(六)

[复制链接]

0

主题

0

好友

7

积分

楼主
13952471055 发表于 2014-10-4 13:30:56 |显示全部楼层
从封装材料的可靠性来讲,毫无疑问,EVA是经过历史的检验的,对于EVA进行改良,增加漏电流通道的电阻值,对于PID的产生有很好的抵制作用。另外,从漏电流通道的机理来讲,金属边框是漏电流通道的载体,如果可以把金属边框替换成绝缘的非金属边框,那么就不需要接地,也就切断了漏电流通道,对于PID效应的产生将会有非常正面的作用。如果可以把EVA的改良和非金属边框的应用进行组合,无疑是对PID效应最好的解决方案!
回复

使用道具 举报

您需要登录后才可以回帖 登录 | 马上注册

 

领跑者创新论坛公众号二维码
回顶部