光伏组件及电池片PID(电势差引发衰减) 的机理讨论

PID效应是一种在组件上面加上高强度负电压而使组件性能降低的现象。在过去的几十年里，由于系统偏压而引起组件功率大幅衰减，有的衰减甚至超过50%， 而从组件外观上却看不到任何缺陷。传统晶硅组件的认证是根据IEC61215 和IEC 61730标准来进行测试，而在这标准之中缺少了对组件长期可靠性评估的相关要求。 　
PID测试即将组件连接到1000伏特的电压上，在一定的温度和湿度条件下，连续通电一定的时间，最后监测组件的前后功率的衰减和EL。