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多晶硅的质量检验及若干问题的探讨

发布者: echo | 发布时间: 2013-4-28 14:19| 查看数: 1768| 评论数: 0

文中主要介绍了多晶硅的结构域晶界效应、电阻率及补偿度的测量、单晶硅的少子寿命测量和样品制备与热处理。

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