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光伏组件潜在电势诱导衰减（PID）测试方案

发布者: echo | 发布时间: 2013-5-8 13:56| 查看数: 2874| 评论数: 0

PID最早是Sunpower在2005年发现的。组件长期在高电压作用下使得玻璃、封装材料之间存在漏电流，大量电荷聚集在电池片表面，使得电池表面的钝化效果恶化，导致FF、Isc、Voc降低，使组件性能低于设计标准。
附件中涵括了PID背景介绍、检验内容、测试相关标准以及目前进行的试验。

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