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晶体硅组件长期运行后性能及衰退原因分析

发布者: echo | 发布时间: 2013-5-31 15:36| 查看数: 1869| 评论数: 0

介绍了两组已使用20a以上的晶体硅光伏组件的电性能测试结果，分析并评价了组件的电性能状况，统计、归纳了组件的一些外观缺陷，并分析了导致组件失效和电性能衰减的原因。

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