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晶科能源:刘俊辉,封装材料应用技术专家

2015-1-30 17:09| 发布者: solartest| 查看: 22568| 评论: 0|来自: 中国光伏测试网

摘要: 姓名:刘俊辉公司:晶科能源有限公司研发部研究领域:主要从事组件辅材(EVA和背板等封装材料)的可靠性测试及评价工作。熟悉组件辅材的各种测试标准和评价手段,对EVA和背板在老化测试过程中的失效模式和失效原因有 ...
   
姓名:刘俊辉

公司:晶科能源有限公司研发部

研究领域:主要从事组件辅材(EVA和背板等封装材料)的可靠性测试及评价工作。熟悉组件辅材的各种测试标准和评价手段,对EVA和背板在老化测试过程中的失效模式和失效原因有深入的研究,尤其熟悉不同类型背板在各种环境老化过程中表现出的差异性。

中国光伏测试论坛 - 背板技术测试创新专题研讨会报告主题:

不同类型背板在环境老化过程中的黄变情况分析

摘要:

对目前市场上主流的几类背板进行了湿热老化、UV辐照、TC+HFUV+TC+HF等环境老化试验,发现环境试验过程中,涂覆型背板的涂层较T膜(PVF),K膜(PVDF),以及A膜(聚酰胺材料)等更容易发生黄变。UV+TC+HF序列试验,较单纯的UV辐照及单纯的TC+HF序列试验,能更快速更有效地区分出不同背板材料耐黄变性能的差异,特别适合组件厂家对背板材料的性能快速地进行评价。

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