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一、紫外荧光灯光老化试验方法: 荧光紫外灯是波长为 254 nm 的低压汞灯,由于加入磷共存物使转换成较长的波长,荧光紫外灯的能量分布取决于磷共存物产生的发射光谱和玻璃管的传扩。荧光紫外灯与家用和商用照明灯一样,也具有特定光谱段。荧光灯目前有两种类型,即荧光灯 UVA(UVA-351 和 UVA-340)与荧光灯UVB(F40 和 UVB-313) 。 荧光灯 UVA 的射线波长主要集中在 340~370 nm 之 间 ,如 UVA-340 和 UVA-351,UVA-340 的短波辐射与 325 nm 以下的日光直射很相似,UVA-351 的短波光谱分布与透过窗玻璃的太阳光相似;荧光灯 UVB(F40 和UVB-313)的峰值波长在 313nm 左右,其能量几乎全部集中在 280~360nm 之 间 ,其能量分布的波长范围比日光的要短,在 360nm 以上几乎没有什么能量,在使用这种 UVB 灯进行加速老化实验时,所得到的被测材料稳定性经常与户 外自然测试中的数据差异较大。这是因为这种光源的短波紫外线能量比例很大,而缺少长波紫外线和可见光部分的能量,因此,在这种光源下材料的老化可能与“自然”测试中相差很大。
二、IEC 61646-2008 紫外预处理试验条件 1.试验目的 在组件进行热循环/湿冻试验前进行紫外(UV)辐照预处理以确定相关材料及粘连连接的紫外衰减。 2.试验装置 a) 在经受紫外辐照时能控制组件温度的设备,组件的温度范围必须在 b) 测量记录组件温度的装置,准确度为± c) 能测试照射到组件试验平面上紫外辐照度的仪器,波长范围为 280nm 到320nm 和 320nm到 385nm,准确度为±15%。 d) 紫外辐射光源,在组件试验平面上其辐照度均匀性为±15%,无可探测的小于 280nm 波长的辐射,能产生根据以下第 3 项规定的关注光谱范围内需要的辐照度。 3.试验程序 a) 使用校准的辐射仪测量组件试验平面上的辐照度,确保波长在 280nm 到385nm 的辐照度不超过250W·m- 2(约等于 5 倍自然光水平),且在整个测量平面上的辐照度均匀性到达±15%。 b) 安装开路的组件到在步骤 a)选择位置的测量平面上,与紫外光线相垂直。保证组件的温度范围为 c) 使组件经受波长在 280nm 到 385nm 范围的紫外辐射为 15kWh·m-2, 其中3%-10%为 280nm到 320nm 波段范围内的紫外辐射量,在试验过程中维持组件的温度在前面规定的范围。 4.最后测试 重复外观检查、最大功率确定和绝缘试验的试验。 5.试验要求 应满足下列要求: (1) 无严重外观缺陷; 对设计鉴定和定型,下列缺陷是严重的外观缺陷: a) 破碎、开裂、或外表面脱附,包括上层、下层、边框和接线盒; b) 弯曲、不规整的外表面,包括上层、下层、边框和接线盒的不规整以至于影响到组件的安装和/或运行; c) 一个电池的一条裂缝,其延伸可能导致超过一个电池 10%以上面积从组件的电路上减少; d) 在组件的边缘和任何一部分电路之间形成连续的气泡或脱层通道; e) 丧失机械完整性,导致组件的安装和/或工作都受到影响。 (2) 最大输出功率的衰减不超过试验前测试值的 5%;5%; (3) 绝缘电阻应满足初始试验同样的要求。 |