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EddyCus薄膜实验室新设计实时厚度遥控

2013-4-27 09:27| 发布者: 有机硅测试技术| 查看: 2835| 评论: 0

摘要: 由弗劳恩霍夫旗下德累斯顿非破坏性测试机构分拆出来的SURAGUS公司日前推出EddyCus薄膜实验室,该产品专为实时遥控玻璃、硅片、塑料或箔片上的高低导电薄膜的厚度及其方块电阻的监测而设计。 针对问题 浮法玻璃或箔 ...

       由弗劳恩霍夫旗下德累斯顿非破坏性测试机构分拆出来的SURAGUS公司日前推出EddyCus薄膜实验室,该产品专为实时遥控玻璃、硅片、塑料或箔片上的高低导电薄膜的厚度及其方块电阻的监测而设计。

针对问题

       浮法玻璃或箔片上的功能性薄膜常被用在光伏电池、触摸屏、平板显示器、有机LED照明和智能玻璃产品或抗静电薄膜或表面加热设备之中。保证质量并对工艺流程进行检查是确保薄膜具有最佳且均匀的导电性能的必备条件。

解决方案

       EddyCus薄膜实验室通过涡流方式,对测试对象的相关质量特性使用局域导电变量,如厚度、导电性、均匀度以及纯度或物理变化等。复杂的涡流信号含有关于测试对象的各种数据,该信号可分解为简单或复杂的算法。涡流测试技术是基于频率在10kHz至100MHz之间的强大的涡流电子学来实现的,该技术根据设备需求结合了不同的传感器理念。

产品应用

       本品可用于功能性薄膜(如透明导电氧化物等)的导电性遥控测量工艺中。

相关信息

       整套系统通过以太网与电脑测量终端相连接。方块电阻范围:0.01-1Ohm/sq;1-100Ohm/sq;基底支撑面积:100x100mm²、200x200mm²和300x300mm²三种可选。测量间隙:1、5、15、25、40和60mm可选(可按需定制)。

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