3.测试条件—更严酷的测试条件
另外，如果结构不能满足要求，会增加大量的其他测试。 4.产品性能—降低组件效率的可能性 更大的空气间隙、爬电距离有可能使得组件的面积变大、但有效受光面积不变，从而使得效率降低。 5.系统性能—PID等其他不可预知的风险 PID—一种由系统电压诱发的组件输出功率衰减现象，更高的系统电压产生PID现象的机会更发， PID现象对组件的电池、EVA、背板等的设计提出了更好的要求，并有可能对组件性能产生负面影响。
1500V组件的认证标准： IEC61215：主要是一些测试参数上的改变，例如绝缘耐压测试、湿漏电测试； IEC61730-1：主要是针对更高等级系统电压对应的空气间隙和爬电距离提出了更高要求等，对 组件的结构设计提出了更好的安全要求； IEC61730-2: 主要是一些安规测试参数上的改变，例如绝缘耐压测试、脉冲电压测试等； 主要变更点为电气安全相关的测试，其他测试如老化测试、力学测试等没有变化。 |
