 姓名：王宇昶 单位：维信科技(新加坡)有限公司 职务：总经理 2016光伏领跑者创新论坛 - 高效电池技术与测试专题研讨会 报告主题： 一种简易的6寸标片复制方法及CTM损益分析技术 报告摘要： 依据IEC60904 标准定标和复制标准电池片是一个相当复杂的过程，本报告介绍一种标片复制的简易方法，能够简单快速地从单晶复制去多晶，从3栅标准电池复制去5栅电池。 组件的转换效率通常会比电池的转换效率低2-3%，造成耗损的因素有很多，组件的电池至边框的留白，电池片之间的空隙，玻璃反射和吸收、EVA的吸收等。但有些因素也能够提升组件转换效率，比如背板的反射，玻璃的陷光特性等。要想提升组件的转换效率，首先需要了解其耗损的机理和掌握其分析技术。本报告介绍一种从电池做成组件(CTM)的损益分析技术，能够量化地分析Isc的损益。 个人简介： 王宇昶先生，上海工业大学电子测量硕士学位，先后任职美国Xerox产品质量认证部, 日本Panasonic测试事业部，从事检测技术和设备的研发30多年。现任维信科技(新加坡)有限公司的总经理，负责电池片检测设备的研发。该公司在上海张江高科技园区设有测试技术研发实验室，配备有稳态I-V特性测量系统、电池片Isc耗损分析系统、电池与组件DSR系统、PL&EL成像系统,、光谱仪及IBC电池，MWT电池，HIT双面电池的可控温测试台。 |
