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潜在诱导降解(PID)测试分析

2013-6-18 16:00| 发布者: echo| 查看: 97963| 评论: 0

摘要: 1、技术背景2、定义:一个潜在的区别 覆盖物 /帧和单元和它产生的电场会导致最大退化的模块。这种功率的作用就是一种PID3、4、削弱细胞的耗尽区,导致减少(--并联电阻;---开路电压;---最大功率 ---填充因子)5、 ...
5、显著影响因素

⑴电池 

前联系了电池降解与负电位地场

后联系了电池退化和正电势地场

⑵组件建设和固定

玻璃、层压板、机架、母线、模块固定

⑶系统:

——最大字符串电压(字符串长度、开路电压模块)

——逆变器结构(固定或浮动电位、PE连接)

⑷气候条件

——温度、湿度、辐射

6、总结

⑴半导体行为转向电阻行为:

——降低分流电阻

——低电阻短路单元- - - >二极管屏蔽行为失去了

——没有线性依赖于时间、电压、温度

⑵泄漏电流作为指示器。

——这取决于温度

——只是指示器,不一般的关系

⑶结论:

——重要的产量损失影响可能PID

⑷模块之间巨大的差异,目前市场上的

——过度的测试


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