| 首先我们提出一个引起PID现象原因的假设，如下图：
图1水气对组件的影响
水气通过封边的硅胶或背板进入组件内部。EVA的酯键在遇到水后按下面的过程发生分解，产生可以自由移动的醋酸。
可以自由移动的醋酸（CH3COOH）和玻璃表面析出的碱反应后，产生了可以自由移动的Na+。Na+在外加电场的作用下向电池片表面移动并富集到减反层而导致PID现象的产生。当加热组件一段时间后，水气离开组件。由于EVA上酯键的水解是一个可逆过程，失去水分后，可以自由移动的羧酸根（CH3COO-）与EVA上的乙烯醇（-CH2-CHOH-）反应而重新成为酯键并连接到EVA主链上而无法移动。相应的Na+也因失去羧酸根无法移动。此时在组件中，由于没有了可以导电的小分子，而导致PID衰减部分恢复甚至全部恢复。
以上的假设，可以总结成四步过程：
（1）水气进入组件
（2）水导致EVA水解产生醋酸
（3）醋酸与玻璃表面析出的碱反应产生可以自由移动的钠离子
（4）钠离子在电场的作用下移动到电池表面
基于以上的假设，我们认为通过原料的筛选和工艺的优化，使EVA中含有的醋酸含量降低可以减缓PID现象的发生。
一个最简单的方法是适当的降低EVA中VA的含量。我们发现使用低醋酸乙烯含量的EVA可以减缓PID现象的产生。合理的解释是低醋酸乙烯含量的EVA中可水解的酯基含量相对低，从而其水解速度也低于高醋酸乙烯含量的EVA。以下实验是在85%湿度60℃环境下施加-1000V电压老化100小时而得到的。
图2PID老化后对比图
表2使用不同VA含量EVA作为封装材料的组件的PID测试结果 |
