| 优化生产工艺也可以部分阻止PID现象发生。采用减反层折光指数是2.08的电池片，对使用同样配方的EVA胶膜D、F进行测试。E、F的差别只是改变生产工艺，D为使用优化生产工艺的EVA制成组件，F为使用未优化生产工艺的EVA制成的组件。除EVA外，光伏组件的其它部件完全一样。测试条件为85%湿度65℃环境下施加-1000V电压老化96小时、192小时。
表3使用优化工艺的EVA作为封装材料的组件的PID测试结果
组件D，测试前、96小时老化后、192小时老化后。
组件F，测试前、96小时老化后、192小时老化后。
在不改变基本配方的情况下，筛选原料和优化原料的配比，也能大幅度改善组件抗PID的效果。同样采用减反层折光指数是2.08的电池片，G、H为筛选原料和优化原料配比后生产的EVA胶膜。测试条件为85%湿度65℃环境下施加-1000V电压老化96小时、192小时。
表4使用筛选原料优化配方的EVA作为封装材料的组件的PID测试结果 组件G，测试前、96小时老化后、192小时老化后。
组件H，测试前、96小时老化后、192小时老化后。
由以上现象可以看出，优化EVA生产工艺、筛选原料和优化原料的配比，可以提高EVA胶膜对组件抗PID的效果。 六、结论 PID现象作为光伏技术发展过程中出现的一个技术问题，是非常值得重视。由于影响到光伏组件的长期使用寿命，所以必须尽快解决。通过技术手段的改进，PID现象将不会成为阻碍光伏事业发展的障碍。通过解决PID问题，对光伏发电的可靠性的了解将更为彻底，由此将使光伏组件更为可靠，从而促进光伏产业更能健康长久的发展。 |
