7月11日，国电光伏晶硅系列组件顺利通过了IECEE国际电工委员会标准IEC 62804 Ed. 1.0(82/685/NP)系统偏压耐受测试System Voltage Durability Test(即俗称的Potential Induced Degradation，缩写PID，电势诱发衰减测试)，获得Anti-PID证书，成为获得TUV南德意志集团PID认证标识的光伏企业。 PID (Potential Induced Degradation) 指的是潜在电势差诱发衰减，PID效应是组件长期在高强度负电压作用下使得玻璃、封装材料之间存在漏电流，大量电荷聚集在电池片表面，使电池表面的钝化效果恶化，导致填充因子、短路电流、开路电压降低，从而组件性能降低。 据了解，一些光伏电站实际使用中表明，由于组件带电部分和接地边框或接地外部之间的潜在高电压可以导致组件退化，退化受多种机制影响，这些退化机制包含电位诱发衰减、极化、电解腐蚀、电化学腐蚀。严重时候，它可以引起一块组件功率衰减50%以上，从而影响整个电站的功率输出。近年来这已经成为国外买家投诉国内组件质量的重要因素之一。而PID测试通过模拟组件在光伏发电系统中的实际应用条件，验证组件抗PID性能，而此性能也成为反映组件品质和可靠性的重要测试项目之一。国电光伏晶硅系列组件经TUV SUD的PID测试，证实其在高温、潮湿等严苛环境下前后功率基本无衰减，保证高效的功率输出，表现出卓越的性能和品质。这将在未来进一步提升国电光伏产品的国际竞争力，为公司创造良好的经济效益。 |
