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PVEL推出新测试方法有助于减反射组件性能输出认证

2013-7-26 10:36| 发布者: 有机硅测试技术| 查看: 19800| 评论: 0|来自: 中国光伏测试网

摘要: 新的减反射光伏组件可以可以提高太阳能组件的输出性能,这对于项目开发商和太阳能模块制造商来讲也就意味着数百万美元。但增加的输出性能需要用一种合理的方法评估表征。 光伏演化实验室(PVEL)又增加了两个新的光 ...

       新的减反射光伏组件可以提高太阳能组件的输出性能,这对于项目开发商和太阳能模块制造商来讲也就意味着数百万美元。但增加的输出性能需要用一种合理的方法评估表征。

       光伏演化实验室(PVEL)又增加了两个新的光伏组件性能测试项目以测量这个变量。 PVEL在户外测量阳光以各种入射角照射时组件功率输出的下降率。这种测试方法可以反映出新的减反射涂层可以提高高达1%的输出性能。

       PVEL的光致降解测试中,PVEL直接从制造厂的生产线上取测试样品,以确保所要测试的组件没有被预先做过减少测试降级的光浸润。

       这些新的“性能表征服务”对于新的、较小的实验室来讲是很重要的步骤,如果它们要和其它主要国际标准和测试机构相比较的话(如德国莱茵TUV,Intertek天祥集团和Fraunhofer CSE提供的服务)。
       但PVEL的商业模式有一个根本的不同,CEO Jenya Meydbray说,“我们的目标是支持在下游的商业交易和项目,这些因素都会影响一个项目的成功,和组件制造商在项目投标的成功,而不是产品认证”。

       具有不同入射角的输出损失假设对于“平板组件不是坏事。”Meydbray说。 “但是,新设计的抗反光涂层通常假设有6%至8%的损失,而实际上则减少。与其推测一个太阳能发电厂的输出损失是多少金钱,还不如我们实际测量、使用已知的测试结果来计算损失。”

       一个准确的评估可以将能量输出的预测提高1%。在商业或公用事业规模的太阳能项目上几十万或上百万的组件使用25年,每增加1%就是很多钱,即使只有几美分每度电。

       用另一种方式去想,这样测算可以影响到开发者10%的盈利能力,“银行是根据未来现金流量来贷款。如果未来现金流量较大,他们将贷款。

       任何晶体硅组件在暴露在阳光下的第一周内的发电输出会下降,这被称作LID,硅的纯度决定了LID是多少,通常其范围从0.5%到4%。制造商可以玩“组件预浸润”游戏来掩盖LID测试的光输出下降。为了防止这种情况,PVEL正与做工厂审计的SolarBuyer合作从生产线直接获得测试样品。

       “如果LID假设过于保守,无论是买方或卖方,千瓦时将再次留在桌面上讨论。而现在已经没有理由再假设,我们可以测量它。在过去,正负5%的假设范围是可以接受的,而现在这个假设已经不够好了。”

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