本文对光伏组件工作过程中最容易发生PID衰减的工作环境进行简化模拟，创建了组件PID衰减环境的原始模型。创造性的引入了高分子材料领域的Arrhenius公式，分析温度对组件PID衰减老化速率的影响；此外本文还通过引入水蒸气分压和相对湿度的关系方程，进一步分析了湿度对组件PID衰减速率的影响。最终计算出在不同的温湿度条件下组件的PID衰减速率之间的差异。

　　本文还借鉴了光伏电站对组件工作过程中PID现象的经验总结，以及光伏行业对组件PID衰减机理的研究成果。结合实验过程中对组件PID衰减情况的数据分析，给出以下结论，以及对组件PID测试方法条件的一些建议。

　　1、在组件的PID衰减过程中，温度因素起到加速老化衰减的作用非常明显；

　　2、在组件的PID衰减过程中，水蒸气分压（湿度）作为组件PID衰减的主要“诱因”因素，在组件的PID衰减过程中起到关键性作用；

　　3、在组件的PID测试过程中，导电铝箔能够很好的保持组件玻璃表面和内部电路之间的电场均匀，平衡个电池片之间的PID衰减作用非常明显；

　　4、相对于组件的真实工作环境，文中提到的第四种测试条件明显过于严苛，以至于光伏行业绝大多数组件难以通过检测。

　　5、组件PID测试以60℃、85%RH、-1000V电压、组件表面贴导电铝箔为测试条件（环境），测试时间为96小时比较合适。按照IE61215标准相应规定来判断组件是否合格。 (本文作者： 吴宝安    曹彦辉    祝剑中    左伟  单位：江苏生美集团光伏技术研发中心  )

　　声明：

　　文中引用的公式（1）出自《一种光伏背板寿命推算的研究》一文，对公式的适用性本文没有经过严格的论证；

　　由于水平有限、组件的PID衰减速率稳定性差，难以准确测评，在组件PID衰减速率估算方面难免存在一定误差；