| 为期两天的Atlas/CEI亚洲光伏耐久性研讨会今天下午在上海浦西万怡酒店圆满结束，材料老化、PID测试再次成为与会者的焦点议题。
在今天的会议上，来自美国国家可再生能源实验室NREL的Peter Hacke博士为大家带来了精彩的PID研究报告。报告中，Peter Hacker向与会者详细介绍了当前关于PID测试的IEC标准草案最新进展情况，解释了为什么不是最严苛测试条件的60C/85%湿度依然是PID测试标准的推荐条件。Peter Hacker还提到了PID测试的室内模拟与户外实际运行的相关性分析，NREL实验室对于无边框、背面安装的组件进行的一系列PID试验的令人鼓舞的结果，这两项研究成果对于行业进一步研究解决PID现象、对于日前热门的双玻组件概念都有深远的意义。
对Hacker先生的报告，会场掀起了热烈的讨论。来自TUV南德、阿特斯、UL的专业工程师以及材料厂家从不同的角度提出了各自的看法和问题，Peter都逐一解答，很多问题因为时间关系被留到了Panel Discussion环节讨论依然余兴未减。
同样，来自美国国家标准技术研究院NIST的顾晓红博士为大家介绍的背板、封装材料加速老化研究成果也引起了所有与会者的关注。顾博士的研究成果认为，高分子材料，不管是背板还是EVA，都会受到光、热、水汽的共同作用。即便是水汽含量极低的情况下，EVA的光、热老化仍不可小觑。她的研究成果也印证了首日董娴博士报告中提到的“电池片中间的EVA比电池片四周的EVA要更黄”的发现。组件中电池片上含水率未必比四周更高，但其发电时的生热现象更明显，老化得会更快。
中国电器科学研究院工业产品与环境适应性国家重点实验室的冯江涛博士为大家介绍了全球不同气候环境下的组件运行监测结果。金属材料腐蚀研究专家、中国电器科学院的冯皓主任为大家介绍的不同环境的气候特点对支架、组件金属部件的腐蚀影响，涵盖了海洋、陆地、城市、沙漠等各种气候条件，不少信息对光伏安装都是崭新的概念，引起了与会者极大的兴趣。
来自台湾工研院的吴鸿森主任为大家介绍了蜗牛纹的最新研究成果。TUV莱茵也再次向业内展示了其对组件质量控制的最新测试结果。
为期两天的会议在紧凑、轻松而又热烈的气氛中圆满结束。与会者中，来自阿特斯、晶澳、腾晖等公司的代表都认为，这是一场高水平的专业技术研讨会，在光伏行业质量问题日益受关注的时候，业内迫切需要这样的会议来共同探讨光伏技术、质量解决方案。与会代表以热烈的掌声向本次会议的主办方 - 中国电器科学院工业与环境适应性国家重点实验室和材料老化试验解决方案领导者阿特拉斯公司表示感谢。
作为本次会议的独家支持媒体，中国光伏测试网全程参与了会议，向行业重点介绍、推荐本次会议的内容及意义。中国光伏测试网致力于打造光伏行业技术、质量、测试的专业技术交流平台，不仅是测试网组织的中国光伏测试论坛系列专题技术研讨会，还积极投身、参与到其它专业技术盛会，包括刚结束的第十届太阳级硅及光伏发电研讨会（CSPV）、此次亚洲光伏耐久性研讨会等。2015年，测试网将继续组织系列光伏技术专题论坛，为行业提供一流的专业技术交流平台。 |
